-
X荧光镀层测厚仪 X射线荧光测厚天瑞仪器 电镀行业综合
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣,适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域
-
M1 MISTRALX射线荧光测厚镀层测厚仪 可检测Ag引线
布鲁克X射线荧光测厚M1 MISTRAL可以用在多个行业领域,用来检测Ag引线、Cu引线,可完成 Ag/Cu镀层厚度分析 项目。符合多项行业标准 ISO3497、ASTMB568
-
X荧光镀层测厚仪 X射线荧光测厚Thick 800A 适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣
天瑞仪器X射线荧光测厚Thick 800A可用于测定废气、废水、废渣,适用于分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。并且参考多项行业标准RoHS 2.0指令。可应用于高分子材料行业领域
-
Thick 800AX射线荧光测厚天瑞仪器 应用于高分子材料
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 800A用于测定废气、废水、废渣,符合行业标准RoHS 2.0指令。适用分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。 仪器介绍 Thick800A
-
芯硅谷 数显测厚表
-
波长色散型X射线荧光光谱仪岛津波散型XRF 适用于膜厚测定、薄膜测定
-
天瑞仪器 镀层测厚 EDX3600L X荧光光谱仪
-
天瑞仪器 镀层测厚 X荧光考古分析仪 EDX8000L
-
碳硫赛默飞PROSIS™ 在线测厚系统简介
赛默飞 红外在线分析厚度传感器PROSIS™用于测定涂布,橡胶,建筑材料,无纺布,锂离子电池,符合行业标准。适用厚度,克重,湿度项目。 在线厚度测量系统是一种测量和控制系统,用于在线测量连续生产的任何
-
X射线荧光测厚M1 MISTRAL布鲁克 可检测Cu引线
布鲁克X射线荧光测厚M1 MISTRAL用于测定Ag引线、Cu引线,符合行业标准 ISO3497、ASTMB568。适用 Ag/Cu镀层厚度分析 项目。 用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net